Mrozek, Ireneusz: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. Cham, Springer, 2019. X, 135 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped.

• Kategorie: Technik
• Schlagwörter: Elektrotechnik
• Sprache: Englisch (en)
• ISBN: 9783319912035
• Bestellnummer: 4341CB

Unser Preis: EUR 16,--