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Mrozek, Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults.

Mrozek, Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults.

Mrozek, Ireneusz: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. Cham, Springer, 2019. X, 135 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped.

  • Kategorie: Technik
  • Schlagwörter: Elektrotechnik
  • Sprache: Englisch (en)
  • ISBN: 9783319912035
  • Bestellnummer: 4341CB

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