Wang, Laung-Terng/Wu, Cheng-Wen/Wen, Xiaoqing: VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)). 1st ed. Morgan Kaufmann, 2006. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped.

• Kategorie: Varia
• Schlagwörter: HELF
• Sprache: Englisch (en)
• ISBN: 9780123705976
• Bestellnummer: 6394VB

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